因素1:讀寫器發(fā)射功率

讀寫器的發(fā)射功率越大，讀寫距離就越大。

因素2:讀寫器天線增益和波束寬度

天線增益越大，波束寬度越小，讀寫距離越遠，范圍越窄，讀取范圍控制越好。

因素3：讀寫器和標簽的靈敏度

標簽芯片和讀寫器的靈敏度會影響讀寫距離，靈敏度越高，讀寫距離越遠。

因素4：多標簽數(shù)量

在多標簽環(huán)境下，在單位時間內(nèi)，RFID讀取的標簽數(shù)量也會影響讀寫器的多標簽讀寫性能。

因素5:讀寫器處理碰撞問題的算法

一般來說，標簽有兩種碰撞問題：

1.多標簽碰撞:多標簽與讀寫器通信時的碰撞可以通過調(diào)整讀寫器本身的防碰撞算法來解決。

2.多讀寫器碰撞：多讀寫器與標簽通信時的碰撞，通過將讀寫器設置為不同的session(通話)和標簽通信或測試時關(guān)閉其他讀寫器。

6:標簽粘貼材料材料材料

金屬和液體會影響電磁波，需要特殊設計的抗金屬標簽和抗液體標簽:

n

?液體應用-必須使用特殊設計的液體標簽；

n

?金屬表面-必須使用抗金屬標簽；

n

如果遇到這兩種材料的標簽，也可以使用標簽——標簽不會直接粘貼在金屬或液體容器表面，芯片和天線部分不會與容器接觸。同時，在液體和金屬的應用中，要注意物品的擺放方式。堆積過多會導致內(nèi)讀取率低。

因素7：測試環(huán)境

RFID建議在開放的環(huán)境中進行性能測試。讀寫器天線與標簽之間存在金屬或液體障礙物，環(huán)境中與頻率接近的電磁干擾會影響測試性能。

首先要確認測試環(huán)境中是否有金屬障礙物干擾，如金屬網(wǎng)、密集金屬網(wǎng)等。UHF信號產(chǎn)生屏蔽作用，導致大衰減，導致標簽信息無法讀取。

其次，如果貨物的性質(zhì)（金屬、液體、服裝等）是否會影響電磁波，也需要避免多層堆放，同時，RFID設備應與其他物品保持距離，避免串讀。

以上是影響RFID系統(tǒng)測試性能的幾個因素，如果在測試過程中遇到性能受到影響，不妨對比一下，希望能讓你的性能受到影響RFID測試過程更順暢！